CVD SiC kate Dummy vahvel

Hiina juhtivate sic vahvlite tootjate ja tarnijatena on VeTek Semiconductor CVD SiC Coating Dummy wafer spetsiaalne tööriist pooljuhtide tootmisel, mida kasutatakse peamiselt räniplaatide testimiseks ja vahvlite testimise protsessis. Teie täiendavad päringud on teretulnud.

Saada päring

Tootekirjeldus

VeTeksemi CVD SiC kattega näivvahvli tooteomadused:

● Kõrge temperatuuriga gaasikindlus: SiC Dummy Wafer on suurepärase vastupidavusega kõrge temperatuuriga gaasierosioonile, sobib kasutamiseks äärmuslikes tingimustes. See vastupidavus tagab ühtlase jõudluse ka kõige nõudlikumates keskkondades.

● Pikaajaline struktuurne terviklikkus: CVD SiC kate Dummy vahvlid on loodud vastu pidama pika aja jooksul paindumisele ja deformatsioonile. Nende vastupidavus tagab nende töökindluse mitme testimistsükli jooksul, vähendades vajadust sagedase asendamise järele.

● Osakestevaba pind: SiC mannekeenivahvlitel on kergesti puhastatav pind, mis minimeerib osakeste tekkimist, mis on saastevaba keskkonna säilitamiseks kriitilise tähtsusega. See funktsioon toetab kvaliteetseid tulemusi ja vähendab defektide tekkimise ohtu.

● Keemiline stabiilsus: SiC-kattega näivvahvli keemiline stabiilsus võimaldab sellel ilma lagunemiseta vastu pidada mitmesugustele söövitavatele ainetele. See funktsioon on oluline vahvli terviklikkuse säilitamiseks keemilise kokkupuute ajal.

veteksemi CVD SiC coating products

CVD SiC-ga kaetud näivvahvlite spetsiifilised kasutusalad:

● Mitmekülgne testimine ja katsetamine: SiC-kattega mannekeenid on olulised pooljuhtide tootmise kõikides etappides, pakkudes ohutut ja usaldusväärset testimis- ja katsetamisvahendit. Need on hädavajalikud tootmisprotsessi alguses, tagades, et kõik parameetrid on optimaalsed enne väärtuslike tootmisvahvlite kasutamist.

● Kaitse difusiooni ajal: Difusiooniprotsessi ajal mängivad näivplaadid olulist rolli, varjestades standardseid räniplaate. See kaitsefunktsioon hoiab ära kahjustuste ja saastumise, säilitades seeläbi originaalvahvli terviklikkuse ja kvaliteedi.

● Mõõtmise täpsus: Neid vahvleid kasutatakse hoolikalt kile paksuse, survekindluse ja peegeldusindeksi mõõtmiseks. Samuti aitavad need tuvastada pinballide olemasolu ja hinnata mustri mõõtmeid litograafias, aidates oluliselt kaasa protsesside täpsusele ja defektide vähendamisele.

Tegelikult toetab VeTek Semiconductor kohandatud tooteteenuseid ja suudab vastavalt kliendi vajadustele pakkuda igale CVD SiC-kattega mannekeenile kasutaja määratud serialiseerimist, võimaldades kohandatud suurust ja paksust. Kohandatud lasergraveerimine välistab veelgi ristsaastumise ohu, tagades kõrge puhtuse ja töökindluse.